掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡(jiǎn)單。 目前的掃描電鏡都配有X射線(xiàn)能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。

進(jìn)口ICP光譜儀：德國(guó)斯派克ICP光譜儀一臺(tái)配備一整套工廠方法的 ICP-OES（亦稱(chēng)ICP-AES或ICP等離子）光譜儀——真正“即插即分析"，無(wú)需首先開(kāi)發(fā)方法。這些工廠方法涵蓋所有常見(jiàn)的環(huán)境和工業(yè)應(yīng)用，如水、廢水、工業(yè)廢水、土壤、下水道淤泥、濾塵、油品中的磨損金屬和添加劑。

SPECTRO GENESIS ICP-OES符合國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，提供開(kāi)箱可用的應(yīng)用包，包括進(jìn)樣系統(tǒng)、樣本品制備指導(dǎo)和方法文件。斯派克提供一套擴(kuò)展附件包，便于SPECTRO GENESIS進(jìn)一步擴(kuò)大其應(yīng)用范圍。

SPECTRO GENESIS ICP-OES（亦稱(chēng)ICP-AES或ICP等離子光譜儀）是順序型ICP和原子吸收光譜儀的真正經(jīng)濟(jì)替代產(chǎn)品，使不熟悉ICP的用戶(hù)從CCD ICP技術(shù)優(yōu)勢(shì)中獲益，而且能夠使用一套強(qiáng)大、低成本和人性化的分析系統(tǒng)。

斯派克全面ICP-OES產(chǎn)品系列中的其他光學(xué)發(fā)射光譜儀包括：SPECTROBLUE和SPECTRO ARCOS。